STA(Static Timing Analysis,静态时序分析)
概念
静态时序分析(Static Timing Analysis, STA) 是在不依赖输入矢量的前提下,分析芯片电路在给定时钟频率下是否能够正确工作的分析方法。它主要通过分析电路中每一个路径的 最大延迟(setup check) 和 最小延迟(hold check) 来验证设计是否满足时序要求。
三大关键要素
1. P(Process)工艺角
表示制造工艺的波动,典型有:
- TT(Typical-Typical):典型工艺角
- FF(Fast-Fast):NMOS 和 PMOS 都变快
- SS(Slow-Slow):NMOS 和 PMOS 都变慢
- 其他角如 SF、FS 也有针对混合快慢情况
2. V(Voltage)电压
芯片供电电压的波动,例如:
- Nominal:正常电压(如1.0V)
- High:电压上升
- Low:电压下降
3. T(Temperature)温度
高温通常会使晶体管变慢,例如:
- 0°C、25°C、125°C 等常用温度点
这三者构成了 STA 中的 Operating Condition(工作条件),用于模拟最坏与最好情形。
核心概念
1. 时序路径类型
- 时钟路径:传输时钟信号的路径
- 数据路径:传输数据的路径(从一个触发器到另一个触发器)
- 组合逻辑路径:由门电路构成的数据路径
2. 时序检查类型
- Setup Time Check(建立时间检查):检查数据是否能在时钟上升沿到来前稳定。
- Hold Time Check(保持时间检查):检查数据是否在时钟沿后维持稳定时间。
3. 延时计算
- Cell Delay(单元延时):逻辑门内部延时,依赖 PVT 和负载
- Net Delay(布线延时):信号在连线上传播的延时